一、概述：
GX-II导热系数测试仪主要测试薄的热导体、硅胶、硅橡胶、固体电绝缘材料、导热硅胶、导热树脂、氧hua铍瓷、陶瓷基片、陶瓷基板、其他铝基片、铝基板、氧化铝瓷等陶瓷导热系数测定。检测材料为固态片状，加围框可检测粉状态材料及膏状材料。
仪器参考标准：MIL-I-49456A（绝缘片材、导热树脂、热导玻纤增强）；GB 5598--2015（氧hua铍瓷导热系数测定方法）；ASM D5470-2017（薄的热导性固体电绝缘材料传热性能的测试标准）等。广泛应用在大中院校，科研单位，质检部门和生产厂的材料分析检测。
二、主要技术参数：
1、试样大小：≤Φ30mm
2、试样厚度：0.02～20mm
3、热极控温范围：室温～299.99℃,控温精度0.01℃
4、冷极控温范围：0～99.00℃，控温精度0.01℃
5、导热系数测试范围：0.01～50W/m*k, 0.1～300W/m*k
6、热阻测试范围：0.05～0.000005m2*K/W
7、测试精度：优于3%
8、试样可在真空状态下试验，确保测试环境及精度，真空度0.1MPa.
9、导热系数测试仪实验方式：a.材料导热系数测试。b、接触热阻测试。
10、计算机全自动测试，并实现数据打印输出。
特别说明：为保护客户权益，我公司不在网站上做任何报价，以上内容价格图片仅为推广使用，不具备参考价值，根据不同客户的现场环境及不同需求有不同类型和组件可选择，具体价格请电询，以报价单为准。
